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  晶圆（Wafer）的常见量测方法（四）；

  1. 原子力显微镜AFM是一种使用范德华力来测量物体的设备。当两分离的距离逐渐接近时，两个原子之间产生吸引力，但当它们靠近时，产生排斥力，工作原理是当尖端遇到物体时，它会弯曲，因为原子之间的力产生吸引力或排斥力

  2023-10-19